SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理
作者:标准资料网 时间:2024-05-14 10:47:49 浏览:9508
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基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理 |
| 英文名称： | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for level translator |
| 中标分类： | 电子元器件与信息技术 >> 微电路 >> 微电路综合 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 替代情况： | SJ/T 10804-1996(原标准号GB 6797-1986) |
| 发布部门： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 发布日期： | 2000-12-28 |
| 实施日期： | 2001-03-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2011-08-15 |
| 提出单位： | 中华人民共和国信息产业部 |
| 归口单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草单位： | 中国电子技术标准化研究所 |
| 起草人： | 李燕荣 |
| 出版社： | 电子工业出版社 |
| 出版日期： | 2001-02-01 |
| 页数： | 35页 |
适用范围
本规范规定了半导体集成电路电平转换器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。
本规范适用于半导体集成电路双极型电平转换器电特性的测试。
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
SJ/T 10734-1996 半导体含集成电路文字符号 电参数文字符号
所属分类： 电子元器件与信息技术 微电路 微电路综合 电子学 集成电路 微电子学
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