NF C96-022-5-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验

作者:标准资料网 时间:2024-05-22 05:00:01  浏览:9802   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part5:steady-statetemperaturehumiditybiaslifetest.
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第5部分:稳态温度湿度偏差寿命试验
【标准号】:NFC96-022-5-2003
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2003-06-01
【实施或试行日期】:2003-06-05
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体器件;温度试验;元部件;水分检验;电子设备及元件;气候;电子工程;电气工程;试验;机械试验;电学测量;气候试验;集成电路;半导体;寿命;环境试验
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:10P;A4
【正文语种】:其他